GB_T 33352-2024 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法.docx

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1、ICS13.020.01:43.040.10CCS1.10SB中华人民共和国家标准GBZT333522024代-GBZT333522016电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法Genera1.ru1.esofscreeningapp1.icationofrestrictedsubstancesine1.ectrica1.ande1.ectronicproductsX-Rayf1.uorescencespectrometry2024-08TH实施2024-04-25发布国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会及布目次前言III引言INI范围I2规范性引用文件I3术语和定义14试剂

2、和材料45 XRF光谱仪45.1 总体要求45.2 软件要求45.3 X射线防护要求45.4 其他硬件配置555XRF光谱仪性能要求与测试方法56 XRF人员的技术能力要求961XRF制抑人员96.1 XRF操作人员96.2 XRF技术主管97工作条件98开机维护109测试程序109.1 样品准备109.2 筛选测试1093测试结果的分析与判定12IO质量控制1410.1 校准的准描度1410.2 质捽样品14I1.文档记录15附录A（资料性）电子电气产品中限用物质XRF筛选常用的有证标准物质和标准物质16参考文献20本文件按照GB,T1.1-2020批准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和

3、起草规则的规定起草.本文件代昔GRT33352-2O16f电子电气产品中限用物旗构选应用通则X射线荧光光谱法B.与GK1133352-2016相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下：增加了正确改的定义、要求及照证方法（见316和5.5.5）;一更改了检出限指标的脸证测试方法,直接引用GRT31.W-2O15中相关方法（见5.5.4,2016年版的A.2.2）：一一更改了能G分阱力指标的验证测试方法，直接引用GB,T31364-2015中相关方法（见5.5.6,2016年版的5.5）;增加了X射线光斑小于3mm的光斑位置要求赃5.9b;一删除了规范性附录A.并将精顺度和检出限两项性能指

4、标要求及脸证方法相关内容放入正文中（见5.5.3和5.5.4）.请注意本文件的某些内容可能涉及专利。木文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会（SAerrC2）提出并归口.本文件起草用位：中国电子技术标准化研究院、深圳赛西信息技术有限公司、江苏威诺检测技术有限公司、江苏天瑞仪器股份有限公司、佳浩仪器（苏州）有限公司、格林美股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、广州金谷科学仪器有限公司、度门大学、中航锂电（洛Mi）有限公司、北京绿色浮汇能源技木研究院、深圳普瑞赛思愉H股术有限公司、广东美的制冷设备有限公司、重庆市大明汽车电器有限公司、深圳市泓盛仪器设

5、备有限公司、江西紫斑科技有限公司、中国侦诚认证中心华南实验室、岛津企业管理（中国）有限公司、纳优科技（北京）有限公司阿美特克商贸（上海）有限公司、中认英泰检测技术有限公司、广州海关技术中心、中家院（北京）检测认证有限公司、青岛海关技术中心.本文件主要起单人：高坚、邢卫兵、毁胜记、吴敏、郭叶春、魏琼.王显、蒋立军、张先华、曾勇、王蝴、范亚、陶云、光霓.张亚夫、刘东任、卢喇、吴静、杨李锋、满力、宋西玉、宋品北胡晓雨、川雄雯.本文件于2016年首次发布，本次为第一次修订.电子电气产品的广泛使用使人们更加关注其财环境的影响，世界上许多国家或地区制定专门的法规限制某些有害物质在电子电气产品中使用.电子电

6、气产品的生产企业为了确保限用物质符合法规的要求，需要对产品的材料进行检测,X射线荧光光谱法（以下简称XRF）是一种快速.低成本、易于操作甚至是无损的定显或半定肽的电子电气产品中限用物质筛选测试方法，广泛应用于相关企业和第：方检测U【构,且其检测结果大属地应用到符合性判定中。尽管如此，相关方仍要注意；a）由于通过XRF不能获得样品中元素的价态和分子信息，因此对六价恪、多澳联笨和多澳二架筋只能检测其总格和总漠的含肽：b）XRP提供的检测准确便至少能达到半定出分析水平.即在规定的68E置信水平下,冽段结果的相对不确定度的典里值为30甚至更好，但,这和湿法化学分析相比,相对不确定度还是一大。考虑到不同

7、的XRF光谱仪之间的性能益异较大，有线XRF光i普仪在元素选择性和灵敏度方面明显不足,为了让采用不同设计、不同红杂程度及不同性能的XRF光谱仪都能用于电子电气产品中限用物质的筛通测试，并考虑到实骁室的操作人员、环境、管理时检测结果的影响，需要对采用XRF光谱仪的电子电气产品中限用物质筛选检测进行必要的规范。IV电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法麻1X射线对人体JHrtr的XRF使用者&S过XRF光谱仪的新墙调并且具桢作技术和取祥的相关知识.应JN三厂商提供的安全使用说明以及SM有关的U和职业安全如t,V示2本文件并未指出所有可能的安全问XRF使用含看责任采取遁的安全和康指,并保

8、IWgET关湖HR定的条件.19本文件规定了能量色散X射线荧光光谱筛选测试电子电气产品中铅(Pb)、束(Hg)、锅(CS、总辂(G)和总泱(Br)等元素的仪涔、人员技术能力、测试程序、质破控制、文挡记录等要求.本文件适用于电子电气产品中铅(Pb)、求(Hg)、%(Cd)、总格(Cr)和总浜(Br)等元素的X射线荧光光讷笳选测试，本文件不适合气体样M的测试.波氏色故X射规荧光光谱筛选应用能参照执行.注：波长色散X射线荧光光谱时干样品前处理参考相关麻准城仪器说明书.2艘范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.其中.注日期的引用文件，仅该H期对应的版木适用于本文件

9、；不注H期的引用文件，其奴新版本(包括所有的修改的)适用于本文件。GB4793.1-2()07测属、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求GB18S71电黑帆射防护与幅射源安全基本标准GBT26572电子电气产品中限用物质的限琏要求GB/T31364-2015能址色侬X射规荧光光诣仪主要性能测试方法GBT3956O.I2O2O电子电气产品中某物质的测定第1部分：介绍和概述GBjT39560.2电子电气产品中某些物的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样GBjT39560.3012020电子电气产品中某些物质的测定第37部分：X射战英光光谱法崎选铅,汞、锦、总珞和白浪3*WWJtXGB/

10、T39S60.12020及GBjT39S60.3012020界定以及下列术语和定义适用于本文件。3.1传选screening确定产品的代衣性部分或部件中是否含有限用物侦的分析方法，该方法将测试结果与设定的限用物质对应元素限假进行比较，以确定限用物旗的存在、不存在或需要进一步分析与检测。注，如果筛选方法测得的值不能判定是杏含f测物版.则可能需要进步的确证分析或采用其他流程做出最终好期洛的判淀.来源：GRT39560.120203IJ0.有修改J3.2均朋材料hgeM)isnuiteri1.由一种或多种物质组成的各部分均匀一致的材料.来源：GBT265722011.3.333XX-Rayf1.uc

11、rescenceSpectroBetryiXRF用一束X射线或高能辎射照射待测样品,使之发射特征X射线而对样品中元素进行定性和定盘分析的方法。&分为波K色故X射线荧光光谱法和能;，t色故X射段荧光光谱法。34波故、法wave1.engthdispersiveX-Rayf1.uorescenceSPeCtrUnWtry;、VDXRF样M中待测元素的原f受到X射践或高能辐射激发而引起内层电了的跃迁，同时发射出具有一定特征波长的荧光X射线，根据测得谱线的波长和速度来对待测元素翊亍定性和定V分析的方法.33能玳色fiiX射线荧光光谱法energydispersiveX-Rayf1.uorescence

12、SpectrometryiEDXRF样品中待测元素的原子受到X射线或高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特征粕量的荧光X射线，根据测得谱线的能量和强度来对待测兀素进行定性和定量分析的方法.3.6分析线aIViIyte1.ines需要对其峰位与强度进行测量并据此判定被分析元素种类与含地的特征谱线.it：X射线英光光谐分析中一脚却襁吱大、干扰少、背颗的特征法线作为分析线.来淞：GWr16597201934有修改3.7背景background特征X射线能蜂以外的谱响应。来源：GBT313642015.3313金基体效应matrixeffects样品的化学组成和物理-化学状态对分析元京

13、荧光X射线强度的影响注：主要表现为吸收-博强效应、娜度效应、表面肥敏效应、化学状效应等.来源：GBT1659720193.7.有修改3.9funduwta1.paranctersmethod用原级X射线的光谱分布、质量吸收系数、荧光产额、吸收突变比、仪器几何因子等基本参数计并出纯元素分析我的理论强度，将测硬机度代入基本参数法数学模型中，用迭代法计算至达到所要求的精度，得到分析元素含量的理论计算方法.来源：GB/T165972019,3.913.10empirica1.COefndentSmethod用经验的数学校正公式，依靠一系列标准物质以实验方法确定某种共存元素对分析线的吸收-增强影响系数和

14、重叠I：扰系数而加以校正的方法。来源：GBT16597201938.有修改3.11校准曲线ca1.ibrationcurve通过测仪一套与样品化学组成，物理、化学状态相似的标准物质系列的X射线强度，将其与相应的元素含量用最小二乘法拟合成的曲级，用以计算在相同的仪器条件下所测未知样M中分析元素的含量.I来源：GBJT165972019.3.10而修ISJ3.12标准物质referencemutcriu1.;RM具有足够均匀和稳定的特性的物质或样品，其特性被证实适用于测量中或标准特性检查中的预期用途.注I辎的吏侧也称为梦翎项1胎雌品.I来源：JJF100I2011.8.14.有修改J3.13WiE

15、KSft4Mcertifiedreferencemateria1.:(?KM附有权或机构的文件，提供使用有效程序获得的具有不确定度和潮源性的一个或多个特性值的标准物质.来源：JJF100I2011815.行修改3.14半禽就fu1.1.widthatha1.fmaximum：FWHM在单嵯构成的分布曲线上，峰值一半处曲线上两点的桢坐标间的即黑.注：如果曲戏包含几个峥，则母个岬都有一个半高宽。另外,由此术语还能扩展1/1隔度(Fw)JM50高度(FWO.02M)等。来源：GBT4960.6-2008,3.2,273.15多道IuE分析mu1.(ichannc1.amp1.itudeana1.yzer多于一道的分析器.通常包含有足够多的道数.它按照输出估号的一个或多个特性(幅度、时间等)对伯号进行分类计数，从而测定其分布函数.来源：GBT4960.62008