GB_T 10592-2023 高低温试验箱技术条件(标准网.docx

ICS19.(14。CCSN<X4侬中华人民共和家标准GBfI105922023代V<ST10692TOoe高低温试验箱技术条件Specificationsforhigh/iowtemperaturetestingchambers2023-03T7发布2023-10-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会及布前言III引古V1范围12现范性引用文件I3术语和定义I4技术要求44.1 产品性能44.2 产品结构及外观要求54.3 安全和环境保护要求65使用和安装条件65.1 使用条件65.2 安装条件76主要检腕仪器与装置76.1 温度刈眼系统76.2 表面温度计76.3 风速计86.4 声级计86.5 绝缘电阻测试仪86.6 耐感测试仪86.7 电磁兼容(EMC)测试仪86.8 秒表86.9 例卷尺87检验方法87.1 检验条件87.2 温度偏差检验87.3 温度波动度松脸107.4 温度均匀度检验107.5 温度指示误差检验I1.7.6 平均温度变化速率检验I1.7.7 全程平均温度变化速率检喘127.8 践性温度变化速率检验147.9 全程线性温度变化速率检脸157.10 升降都时间检脸17本文件按照GB,T1.1-202（）d标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草.本文件是“M、境试粉箱技术条件”系列标准之一，该系列由以下文件组成：-GBT105862(X)6-GB,T105872006-GWr105882006-GBT-GB"GBTGB1T105892(X)8105902006105912006105922023-GBT111582(X)8GB.111592010湿热试粉箱技术条件；盐雾试验箱技术条件：长得试验箱技木条件：低温试验箱技术条件：高低温/低气压试验箱技术条件;总以，低气压试脸箱技术条件：高低温试蛉箱技术条件；高温试验筒技术条件：低气压试脸箱技术条件。本文件代替GBZT10592-2008£高低温试验箱技术条件,-GBT10592-2008相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：a）增加了“温度冲击试验”（见第I章）；b）删除了“实际温J变”（见200«年版的3.3）、“温质梯度”（见2008年版的3.7）、“工作空间的温度偏差”（见2008年版的3.9）的术语及定义，更改了“温度波动度”的定义（见3.8.2008年版的3.5）,将“极限品馁”（见200舜版的310）更改为“温度极值”（虹15）、将“温J变变化速率”（见20（侬F版的3.8）分为“平均温度变化速率”（见3.11）和“技性JS度变化速率”（见3.13）,增加J'“温I变儡差”（/7）、“温度均匀度”（/9）、“温度指示误差”（W1.1。）、“全程平均温度变1班率”（畋、“全程线性温度变化速率”（胆、“升降温时间”（必15）、“温度恢发时间”（aai6）,“温蚣1冲”（JB1.7“温度it冲对（败18）、“温度过冲恢纫印（啦、“温度变化试检剖面”（见3.20）的术语及定义：0更改了“表I试验箱性能项目及要求“（见4,2008年版的表1）,删除了“温度梯次”（虹008年版的表1序号3）、“工作室内壁温度与工作空间温度之差”（见2008年版的表1序号5）,增加了“温我偏差”“温度均匀度”“温度指示误差”“全程平均温度变化速率”“全程线性温度变化½率”“升降挪加厂“ifi度快如悯”“&S过冲Jir“油节办限期抑题目跋求（见1.1表D,增加了试险箱内箱尺寸（见42.15）、试3金箱内箱容枳的要求（见4.2.16）,增加了电磁兼容（EMC）安全要求（见4.3.4）及制冷剂的环保要求（见4.3.8）:力将“使用条件”（见2008年版的第4章）更改为“使用和安装条件”（见第5垄）.更改了供水条件（见5.1.3,2008年版的4.3）,增加了安装条件（见5.2）;e）增加了“声级计”（见6.4）、“绝缘曲H测试仪”（见6.5）、“耐压测试仪”（见6.6）、“电磁我容（EMCJ测试仪“（WA7）、W（WA8）s“钢卷尺”（见6.9）及仪器的要求；0更改J'检船条件（见7.1,2008年版的6.2）,细分J'“温度变化速率”的检验方法，增加“全程平均温度变化速率检验”（见7.7）,增加了2min、3min、4min线性温度变化速率（见7.8,1.）,增加了“全程级性温度变化速率检验”（见79）,增加了“温度指示误差”（见7.5）、“升降温时（½7.1.O）.“温度t收R剂广（见7.11）、“温啦:冲量现7.“觎E过冲/由（'现7.的检验方法，“风速检验分为单点测量及多点测盘”（见7M,2008年版的6.6）,噪声检验分为单点测at及多点测段（见7.15,2008年板的6.ID,增加了“试，箱内箱尺寸检验”（见7.19）、“试验箱内笛容积检验”（见7.20）、“电磁/容（EMC）试验”（见7.21.4）;g）更改了“表4检验项目及技术要求与检验方法”（见9.I农4,2008年版的7.2表2）;h）将“标志、包装、贮存”（见200«年版的第8章）更改为“标志、使用说明书”（见第9航）和“包装、运输、贮存”（见第10章）.增加了“使用说明书”（见92）和“运输”（见10.2）的要求。请注意本文件的某些内容可能涉及S利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.本文件由中国机械工业联合会提出。本文件由全国实验室仪涔及设备标准化技术委员会（SAC，TC526）归11,本文件起草单位：广州五所坏境仪器有限公司、机械工业仪器仪表媒介技术经济研究所、工业和信,&化郃电子第五研窕所、江苏拓米洛环境试验设备书限公司、杭州雪中次恒温技术有限公司、上海市计信测试技术研究院、广东产品侦破I监督检骁研究院、安徽省计量科学研究院、中科褰凌（北京）科技有限公司、上海爱斯以克环境设备行限公司、华测检测认证集团股份有限公司、湖南省计量检测研究院、无锡索亚特试脸设备有限公司、东莞市升微机电设需科技有限公司、宁波市计联测试研究院（宁波新材料检验检测中心）、广州能源检测研究院、益阳市计研测试检定所、衡阳市计量测试中心、羽庆阿泰可科技股份有限公司、杭州沃镭智能科技股份有限公司、中国计麻大学.本文件主要起草人；谢隧浩、张桂玲、J凯馀月明、江切霞张艳k谢凯饯、凌彦和唐力华、黄利甘、刘加永、）学华、王美军、蔡金、邹轶、熊知明、周中明、曾徉明、：EM甘、刘宣仔、喻旭东、罗雄蚱,谢绍军、郭嫉、施子诚、黄宇。本文件及其所代冲文件的历次版本发布情况为：1989年首次发布为GBZr10592-1989;2008年第一次修订：本次为第二次修订.环境试脸设篇是模拟气候环境条件的试验箱的总称，包括高低温、湿热、低气压等试粉箱。为了保证试验箱产品分类.性能指标、检验方法等技术现定在生产和使用中有共同遵守的依据，我国已建立了试验箱技术条件的标准体系.主要包括以下文件：-GB1T105862006依据。-GBT105872006依据.GBrr105882006依据。GBjT105892008依据.-CB/T10590-2006湿热试验箱技术条件。目的在于为湿热式验箱提供质量保证桂粉的盐霁试验箱技术条件。目的在于为然雾试验箱提供质量保证悔验的反毒试验箱技术条件.目的在于为长将试验箱提供质量保证检验的低温试粉箱技术条件。I1.的花干为低温试验箱提供研益保证捡粉的高低温，低气试验箱技术条件.目的在于为高低温/低气压试验箱提供质录保证检蛤的依据。-GBT10591-20()6而ifi低气压试脸箱技术条件，目的在于为高ifi/低气压试粉箱提供侦量保证检验的依据GB1T10592-2023高低温试验箱技术条件。目的在于为高低温试验箱提供质业保证检验的依据.-GB/T11158-20()8高谓试验箱技术条件.目的在于为高温试验箱提供痂J.t保证检验的依据。一GB"11159-2010低气压试验箱技术条件.目的在于为低气压试验箱提供质量保证检睑的依据.裔低血试脸箱是模拟高低汨气候环境条件的试验设得，广泛应用于各种产品、等邮件、材料的高海或低海、高低温循环以及温度冲击的环境试脸。本文件从高低溟试验箱制造、使用和检脸等方面考虑了温度技术指标的规范性、检照方法的科学性和检验结果的准确性,协调了与GBrr5170£环境试验设备检验方法(所有部分)、JJFIIO1.e环境试验设备温%湿度舂数校掂规范3和JJF1270布%湿振动综合环境试验系统校准班范3的相关术语、要求和检脸方法之间的关系，给出了有关温度技术指标的定义、要求及其对应的检验方法.用户在评估和选择高低温试验箱时，宜保令考虑武登箱内箱尺寸、试验箱容枳、工作温度莅困、温度偏差、温度波动度、温度均匀度和温度变化速率等技术指标，以湎足所需的高低温试验条件要求,试舱箱的设计和制造宜按照GBb15706-2012*机械安全设计通则风险评估与风险减小3,充分考虑试验箱的机械安全性，以保证使用人员的人身安全性.3.13Mf化速IIneMrtemperaturvrateofchange按规定温度速率变化的试眨箱，工作空间内某一指定的点在两个规定温度范附内的10%至90%之间测得的任意间隔时间t的海度平均转变速率。注：单的姆氏度每分（C'rng3.14受（Ut率1.ineartemperaturerateofchangeinwho1.erange按规定温度速率变化的试5金箱.工作空间内某一指定的点从一燃定温度”+2C（Ta-2）变化至另一规定温度Th2C（Ta+2C）时测得的任意间隔时间1.的温度平均转变速率，注：单位为摄氐IS每分（Cni11）3.15升!邃时间timeofrisinganddecreasingtemperature按蜃大温度速率变化的试验箱.工作空间内某一指定的点从一规定温度变化至另一规定温度时需要的时间.注：单位为余n）,3.16SUHKWHfitaver8turerecoverytin在经过规定的暴露时间后，工作空间内由当前状态转入低温（或高温）状态,测量点温度饯发到井开始稳定在低温暴露温度的允许上儡差以下（或高温暴需温度的允许下偏差以上）温度所需的时间。来源：GB-T5170.1201632.14.有修改3.17温度过冲kmpcraturrover在试验箱（区）升温或降温至温度设定值过程中，工作空间以高温僮伯或鼓低甜度位超出温度设定值允许范围.睐源：GB.T5170.1201632.15,有修改3.18厚度过冲temperatureOVerShOOt在试蛤第（区）升温或降温至温度设定值过程中，工作空间内测吊和记录到的Ai高温度伯或以低温度俏曲出温度设定伯允许范困的“K来源：GaT517（）.120163.2.16.有修改3.199MB2recoveryti«oft«VeratUreover在试禁箱（区）升温或降温至温度设定他过程中，工作空间内测域和记录到的以高温度值或以低限度值从出出温度设定值允许范国到开始植定在温度设定值允许范用的时间。来源：GBT5170.12016.3.2.17.有修改3.20遑度变化试验剖面testprofi1.eOftemperaturevariation由初始溟